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ESD Testing: From Components to Systems
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HUF 62353
Price Details
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*Alle Artikel werden aus USA importiert
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ESD Testing: From Components to Systems is an invaluable reference for semiconductor chip and system-level ESD and EOS test engineers
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100 % Originalprodukte
PCI DSS-Standards
ISO 27001-zertifiziert
Besondere Merkmale
Produktdetails
| Publisher | Wiley |
| Publication date | December 27, 2016 |
| Edition | 1st |
| Language | English |
| Print length | 336 pages |
| ISBN-10 | 9780470511916 |
| ISBN-13 | 978-0470511916 |
| Item Weight | 1.42 pounds (640 grams) |
| Dimensions | 6.9 x 0.8 x 9.7 inches (17.5 x 2 x 24.6 cm) |
Für wen ist das Produkt geeignet?
-
Engineers and Technicians
Ideal for professionals involved in product design, providing essential guidelines for effective ESD testing methodologies.
-
Quality Assurance Teams
Useful for QA personnel who need comprehensive knowledge of ESD protection to improve product reliability and compliance.
-
Educators and Students
Supports educators and students in electronics fields, offering a structured approach to understanding ESD testing concepts.
-
General Consumers
Not suitable for everyday users who lack technical background or interest in electronic component testing.
PRODUKTBESCHREIBUNG
ESD Testing: From Components to Systems
Kundenfragen und -antworten
-
Frage:
Wie kaufe ich ESD Testing: From Components to Systems online bei Ubuy ein?
Antworten: Es ist ganz einfach, ESD Testing: From Components to Systems online bei Ubuy einzukaufen.. Sie müssen nur nach dem Produkt suchen, beim Bezahlen Ihre Versandart auswählen und es an Ihren Standort liefern lassen. -
Frage:
Ist ESD Testing: From Components to Systems in Hungary zum Online-Shoppen verfügbar?
Antworten: Ja, bei Ubuy Hungary können Sie dieses Produkt zu einem angemessenen Preis kaufen.. Das ESD Testing: From Components to Systems ist lokal nicht verfügbar, aber Sie können uns unseren Expressversandservice anvertrauen. -
Frage:
Wie lange dauert es nach der Bestellung, bis ich das Produkt erhalte?
Antworten: Die Lieferzeit Ihres bestellten Produkts hängt davon ab, was Sie bestellt haben und welche Versandart Sie gewählt haben.. Die voraussichtliche Lieferzeit wird während des Bestellvorgangs angegeben. Seien Sie also beim Einkaufen unbesorgt.
Design Editorial Review
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Vorteile
- Compact design
- Lightweight
- Easy to use
Nachteile
- Limited functionality.
Produktpreisverlauf
Wichtige Information
- Einschränkungen: Für international versandte Produkte beachten Sie bitte, dass jegliche Herstellergarantie nicht gültig sein könnte; Herstellerservice-Optionen nicht verfügbar sein könnten; Produkthandbücher, Gebrauchsanleitungen und Sicherheitshinweise nicht in der Sprache des Ziellandes verfasst sein könnten; die Produkte (und Begleitmaterialien) könnten nicht im Einklang mit den Standards, Spezifizierungen und Etikettierungsvorgaben des Ziellandes entworfen sein; und die Produkte könnten nicht der Voltzahl und anderen elektrischen Standards des Ziellandes entsprechen (weshalb, falls zutreffend, die Verwendung eines Adapters oder Umwandlers erforderlich sein könnte). Der Empfänger ist dafür verantwortlich sicherzustellen, dass das Produkt legal in das Zielland importiert werden kann. Bei der Bestellung von Ubuy oder seinen Partnern ist der Empfänger der eingetragene Importeur und muss sich an alle Gesetze und Regulierungen des Ziellandes halten.
- Nicht alle auf Ubuy aufgeführten Produkte werden zum Verkauf angeboten, da Ubuy eine globale Suchmaschine ist. Produkte unterliegen Export-/Handelsbestimmungen.
HUF 62353
Dieses Produkt wird nicht von Ubuy ausgeführt und die Lieferung kann mindestens 10 Tage dauern. Wir könnten das Produkt aus der Bestellung stornieren und Ihnen den Kaufpreis zurückerstatten, falls bei der Lieferung dieses Produktes ein Problem auftritt.
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QTY:
PCI DSS compliant and ISO 27001:2022 certified, with encrypted payments and full buyer protection on every order.
Merkmale und Vorteile
- Invaluable reference for semiconductor chip and system-level ESD and EOS test engineers
- Provides understanding and knowledge of ESD models and specifications
- Discusses new testing methodologies such as transmission line pulse (TLP)
- Describes both conventional and new testing techniques for chip and system level evaluation
- Addresses EOS testing and electromagnetic compatibility (EMC) scanning
- Useful for semiconductor device and process development, circuit designers, and failure analysis engineers
Ubuy Assurance
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